Publication detail
Charakterizace kontaktních vrstev konektorů
WASSERBAUER, J.
Original Title
Charakterizace kontaktních vrstev konektorů
English Title
Characterization of contact layers of connectors
Type
report
Language
Czech
Original Abstract
Tloušťka kontaktních vrstev (cínu a stříbra) byla stanovena pomocí strukturní analýzy.
English abstract
The thickness of contact layer (tin and silver) was determined using of structural analysis.
Keywords
Cín, stříbro, vrstvy, strukturní analýza.
Key words in English
Tin, silver, layers, structural analysis.
Authors
WASSERBAUER, J.
Released
29. 11. 2012
Pages from
1
Pages to
18
Pages count
18
BibTex
@techreport{BUT106319,
author="Jaromír {Wasserbauer}",
title="Charakterizace kontaktních vrstev konektorů",
year="2012",
pages="1--18"
}