Detail publikace
Charakterizace kontaktních vrstev konektorů
WASSERBAUER, J.
Originální název
Charakterizace kontaktních vrstev konektorů
Anglický název
Characterization of contact layers of connectors
Typ
zpráva odborná
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Tloušťka kontaktních vrstev (cínu a stříbra) byla stanovena pomocí strukturní analýzy.
Anglický abstrakt
The thickness of contact layer (tin and silver) was determined using of structural analysis.
Klíčová slova
Cín, stříbro, vrstvy, strukturní analýza.
Klíčová slova v angličtině
Tin, silver, layers, structural analysis.
Autoři
WASSERBAUER, J.
Vydáno
29. 11. 2012
Strany od
1
Strany do
18
Strany počet
18
BibTex
@techreport{BUT106319,
author="Jaromír {Wasserbauer}",
title="Charakterizace kontaktních vrstev konektorů",
year="2012",
pages="1--18"
}