Publication detail
Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole
ŠKODA, D. KALOUSEK, R. TOMANEC, O. BARTOŠÍK, M. BŘÍNEK, L. ŠUSTR, L. ŠIKOLA, T.
Original Title
Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole
English Title
Study of optical properties of nanostrucutures by scanning near-field optical microscopy
Type
journal article - other
Language
Czech
Original Abstract
Optické vlastnosti periodických struktur a stříbrných nanovláken byly studovány pomocí rastrovací mikroskopie blízkého pole. Iluminace zkoumaného vzorku nebo detekce elektromagnetického pole v blízkosti povrchových, opticky aktivních struktur byla provedena pomocí optického vlákna připevněného na kmitající ladičku. Následující příspěvek prezentuje nově používané zařízení, rastrovací mikroskop blízkého pole a dosavadní výsledky získané při studiu nanostruktur
English abstract
Optical properties of periodic structures and one-dimensional nanowires have been studied by Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM). The optical waveguide connected to the tuning fork detector was used for the illumination of the sample or the collection of electromagnetic field close to surface of optically active structures. This contribution presents the ability of new instrument - scanning near-field optical microscope - and the recent results on studied nanostructures.
Keywords
SNOM, NSOM; mikroskopie blízkého pole; plasmonika; plasmonové struktury
Key words in English
SNOM, NSOM; near-field microscopy, plasmonics, plasmonic structures
Authors
ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T.
RIV year
2009
Released
1. 9. 2009
ISBN
0447-6441
Periodical
Jemná mechanika a optika
Year of study
54
Number
7-8
State
Czech Republic
Pages from
219
Pages to
222
Pages count
4
BibTex
@article{BUT48785,
author="David {Škoda} and Radek {Kalousek} and Ondřej {Tomanec} and Miroslav {Bartošík} and Lukáš {Břínek} and Libor {Šustr} and Tomáš {Šikola}",
title="Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole",
journal="Jemná mechanika a optika",
year="2009",
volume="54",
number="7-8",
pages="219--222",
issn="0447-6441"
}