Detail publikace

Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua

POLČÁK, J. BÁBOR, P. ČECHAL, J. ŠIKOLA, T.

Originální název

Anglický název

Sample manpulator for X-ray photoelectron specoscopy compatible with ultra high vacuum.

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS) je zavedenou metodou v laboratořích pro výzkum povrchů a tenkých vrstev. V článku je uvedena konstrukce utomatizovaného manipuláoru, který umožňuje posun vzorku ve třech osách a jeho rotaci v polárním aazimutálním úhlu. Tímto systémem mohou být snadno získána data z úhlově závislých měření nebo rentgenové fotoelektronové difraktogramy.

Anglický abstrakt

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a well established technique which cannot be omitted in any surface and thin film laboratory. We report on construction of an automated sample manipulator which enable sample positioning in three axes an sample rotations in polar and azimutal angles. The automatiation enables an easy obtaining of angle resolved data or X-ray photoelectron difractograms.

Klíčová slova

rentgenová fotoelektronová spektroskopie, XPS, ARXP, velmi vysoké vakuum, UHV, manipulátor

Klíčová slova v angličtině

X-ray photoelectron spectroscopy, XPS, ARXPS, ultra high vacuum, UHV, manipulator

Autoři

POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.

Rok RIV

2009

Vydáno

1. 9. 2009

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Ročník

Číslo

7-8

Stát

Česká republika

Strany od

215

Strany do

216

Strany počet

BibTex

@article{BUT47906,
  author="Josef {Polčák} and Petr {Bábor} and Jan {Čechal} and Tomáš {Šikola}",
  title="Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2009",
  volume="54",
  number="7-8",
  pages="215--216",
  issn="0447-6441"
}