Detail publikace
A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers
ZMEŠKAL, O. SALYK, O. VESELÝ, M. DZIK, P.
Originální název
A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.
Klíčová slova
refractive index, thickness of layers, interefernce microscopy, optical microscopy
Autoři
ZMEŠKAL, O.; SALYK, O.; VESELÝ, M.; DZIK, P.
Rok RIV
2008
Vydáno
9. 9. 2008
Nakladatel
Asociace českých chemických společností
Místo
Brno
ISSN
1213-7103
Periodikum
Chemické listy
Ročník
102
Číslo
S
Stát
Česká republika
Strany od
s1033
Strany do
s1036
Strany počet
4