Detail předmětu
Tenké vrstvy
FCH-MC_TVRAk. rok: 2025/2026
Struktura přednášky zahrnuje definici základních pojmů, základy techniky vakua, úvod do plazmochemie, technologie přípravy vrstev - napařování, rozprašování, plazmová polymerace, využití laserů pro depozice tenkých vrstev, depozice z plynné fáze, charakterizace tenkých vrstev - růst vrstev, tloušťka tenké vrstvy, techniky sondové mikroskopie (STM, AFM, EFM, MFM, SNOM), mechanické vlastnosti (měřící techniky, pnutí, adheze).
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
3
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Vstupní znalosti
Základy chemie a fyziky.
Pravidla hodnocení a ukončení předmětu
Písemný vstupní test a po jeho úspěšném absolvování (úspěšnost >50%) probíhá ústní zkouška, která hodnotí úroveň základních znalostí studenta z technologií přípravy vrstev, způsobů jejich charakterizace, vlastností a použití tenkých vrstev v rozsahu probíraném na přednášce.
Účast na přednášce není povinná.
Účast na přednášce není povinná.
Učební cíle
Cílem kurzu je seznámit studenty s pokročilými technologiemi přípravy a analýzy tenkých vrstev.
Studenti získají základní znalosti o průmyslových technologiích pro přípravu tenkých vrstev, o vybraných analýzách vlastností vrstev a jejich aplikacích. Tyto znalosti mohou využít při zpracování diplomové práce a také později jako technologové a výzkumní pracovníci.
Studenti získají základní znalosti o průmyslových technologiích pro přípravu tenkých vrstev, o vybraných analýzách vlastností vrstev a jejich aplikacích. Tyto znalosti mohou využít při zpracování diplomové práce a také později jako technologové a výzkumní pracovníci.
Základní literatura
D. Hoffman, B. Singh, J.H. Thomas, Handbook of Vacuum Science and Technology, Academic Press 1998 (CS)
L. Eckertová, Fyzika tenkých vrstev, SNTL 1973 (CS)
M. Ohring, Materials Science of Thin Films, Academic Press 2002 (CS)
V. L. Mironov, Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, NT-MDT 2004 (CS)
L. Eckertová, Fyzika tenkých vrstev, SNTL 1973 (CS)
M. Ohring, Materials Science of Thin Films, Academic Press 2002 (CS)
V. L. Mironov, Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, NT-MDT 2004 (CS)
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Přednáška
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
1. Úvod / Informační zdroje
2. Základy techniky vakua
3. Úvod do fyziky a chemie plazmatu
4. Fyzikální metody pro přípravu tenkých vrstev
5. Chemické metody pro přípravu tenkých vrstev
6. Plazmochemická depozice z plynné fáze
7. Růst tenké vrstvy
8. Měření tloušťky tenkých vrstev
9. Rastrovací sondová mikroskopie
10. Mechanické vlastnosti tenkých vrstev
11. Případová studie
12. Případová studie
13. Písemný test, návštěva laboratoří
2. Základy techniky vakua
3. Úvod do fyziky a chemie plazmatu
4. Fyzikální metody pro přípravu tenkých vrstev
5. Chemické metody pro přípravu tenkých vrstev
6. Plazmochemická depozice z plynné fáze
7. Růst tenké vrstvy
8. Měření tloušťky tenkých vrstev
9. Rastrovací sondová mikroskopie
10. Mechanické vlastnosti tenkých vrstev
11. Případová studie
12. Případová studie
13. Písemný test, návštěva laboratoří
Konzultace v kombinovaném studiu
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor